无损检测超声波检测二级试题库(UT) - 图文

无损检测超声波试题（UT）、

一、是非题

1.1 受迫振动的频率等于策动力的频率。 1.2 波只能在弹性介质中产生和传播。

1.3 由于机械波是由机械振动产生的，所以波动频率等于振动频率。

1.4 由于机械波是由机械振动产生的，所以波长等于振幅。 1.5 传声介质的弹性模量越大，密度越小，声速就越高。 1.6 材料组织不均匀会影响声速，所以对铸铁材料超声波探伤和测厚必须注意这一问题。

1.7 一般固体介质中的声速随温度升高而增大。

1.8 由端角反射率试验结果推断，使用K≥l.5的探头探测单面焊焊缝根部未焊透缺陷，灵敏度较低，可能造成漏检。 1.9 超声波扩散衰减的大小与介质无关。 1.10 超声波的频率越高，传播速度越快。

1.11 介质能传播横波和表面波的必要条件是介质具有切变弹性模量。

1.12 频率相同的纵波，在水中的波长大于在钢中的波长。 1.13 既然水波能在水面传播，那么超声表面波也能沿液体表面传播。

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1.14 因为超声波是由机械振动产生的，所以超声波在介质中的传播速度即为质点的振动速度。

1.15 如材质相同，细钢棒(直径<λ=与钢锻件中的声速相同。 1.16 在同种固体材料中，纵、横渡声速之比为常数。 1.17 水的温度升高时，超声波在水中的传播速度亦随着增加。 1.18 几乎所有的液体（水除外），其声速都随温度的升高而减小。

1.19 波的叠加原理说明，几列波在同一介质中传播并相遇时，都可以合成一个波继续传播。

1.20 介质中形成驻波时，相邻两波节或波腹之间的距离是一个波长。

1.21 具有一定能量的声束，在铝中要比在钢中传播的更远。 1.22材料中应力会影响超声波传播速度，在拉应力时声速减小，在压应力时声速增大，根据这一特性，可用超声波测量材料的内应力。

1.23 材料的声阻抗越大，超声波传播时衰减越大。 1.24 平面波垂直入射到界面上，入射声压等于透射声压和反射声压之和。

1.25 平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量与反射能量之和。

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1.26 超声波的扩散衰减与波型，声程和传声介质、晶粒度有关。 1.27 对同一材料而言，横波的衰减系数比纵波大得多。 1.28 界面上入射声束的折射角等于反射角。

1.29 当声束以一定角度入射到不同介质的界面上，会发生波形转换。

1.30 在同一固体材料中，传播纵、横波时声阻抗不一样。 1.31 声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数，温度变化对材料的声阻抗无任何影响。

1.32 超声波垂直入射到平界面时，声强反射率与声强透射率之和等于1。

1.33 超声波垂直入射到异质界面时，界面一侧的总声压等于另一侧的总声压。

1.34 超声波垂直入射到Z2>Zl的界面时，声压透过率大于1．说明界面有增 强声压的作用。1

1.35 超声波垂直入射到异质界时，声压往复透射率与声强投射率在数值上相等。

1.36 超声波垂直入射时，界面两侧介质声阻抗差愈小，声压往复透射率愈低。

1.37 当钢中的气隙（如裂纹）厚度一定时，超声波频率增加，

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反射波高也随着增加。(0

1.38 超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的反射角等于折射角。

1.39 超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的折射角总大于入射角。

1.40 超声波以10。角入射至水／钢界面时，反射角等于10。。 1.41 超声波入射至钢／水界面时，第一临界角约为14.5。。 1.42 第二介质中折射的横波平行于界面时的纵波入射角为第一临界角。

1.43 如果有机玻璃／铝界面的第一临界角大于有机玻璃／钢界面第一临界角，则前者的第二临界角也一定大于后者。 1.44 只有当第一介质为固体介质时，才会有第三临界角。 1.45 横波斜入射至钢，空气界面时，入射角在30*左右时，横声压反射率最低。

1.46 超声波入射到C1C2的凸曲面时，其透过波集聚。 1.48 以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头，有机玻璃／水界面为凹曲面。

1.49 介质的声阻抗愈大，引起的超声波的衰减愈严重。 1.50 聚焦探头辐射的声波，在材质中的衰减小。

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1.51 超声波探伤中所指的衰减仅为材料对声波的吸收作用。 1.52 超声平面波不存在材质衰减。

2.1 超声波频率越高，近场区的长度也就越大。 2.2 对同一个直探头来说，在钢中的近场长度比在水中的近场长度大。

2.3 聚焦探头的焦距应小于近场长度。 2.4 探头频率越高，声束扩散角越小。

2.5 超声波探伤的实际声场中的声束轴线上不存在声压为零的点。

2.6 声束指向性不仅与频率有关，而且与波型有关。 2.7 超声波的波长越长，声束扩散角就越犬，发现小缺陷的能力也就越强。

2.8 因为超声波会扩散衰减，所以检测应尽可能在其近场区进行。

2.9 因为近场区内有多个声压变为零的点，所以探伤时近场区缺陷往往会漏检。

2.10 如超声波频率不变，晶片面积越大，超声波的近场长度越短。 1

2.11 面积相同，频率相同的圆晶片和方晶片，超声场的近场长度一样长。

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2.12 面积相同，频率相同的到晶片和方晶片，其声束指向角亦相同。

2.13 超声场的近场长度愈短，声束指向性愈好。 2.14 声波辐射的超声波的能量主要集中在主声束内。 2.15 声波辐射的超声波，总是在声束中心轴线上的声压为最高。

2.16 探伤采用低频是为了改善声束指向性，提高探伤灵敏度。 2.17 超声场中不同横截面上的声压分布规律是一致的。 2.18 在超声场的来扩散区，可将声源辐射的超声波看成平面波，平均声压不随距离增加而改变。

2.19 斜角探伤横波声场中假想声源的面积大于实际声源面积。 2.20 频率和晶片尺寸相同时，横波声束指向性比纵波好。 2.21 圆晶片斜探头的上指向角小于下指向角。

2.22 如斜探头入射点到晶片的距离不变，入射点到假想声源的距离随入射角的增加而减小。

2.23 200mm处Φ4长横孔的回波声压比100mm处由2长横孔的回波声压低。

2.24 球孔的回波声压随距离的变化规律与平底孔相同。 2.25 同声程理想大平面与平底孔回波声压的比值随频率的提高而减小。

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2.26 轴类工件外圆径向探伤时，曲底面回波声压与同声程理想大平面相同。

2.27 对空心圆柱体在内孔探伤时，曲底面回波声压比同声程大平面低。

3.l 超声波探伤中，发射超声波是利用正压电效应，接收超声波是利用逆压电效应。1

3.2 增益l00dB就是信号强度放大100倍。

3.3 与锆钛酸铅相比，石英作为压电材料有性能稳定、机电耦合系数高、压

电转换能量损失小等优点。

3.4 与普通探头相比，聚焦探头的分辨力较高。

3.5 使用聚焦透镜能提高灵敏度和分辨力，但减小了探测范围。 3.6 点聚焦探头比线聚焦探头灵敏度高。 3.7 双晶探头只能用于纵波检测。

3.8 B型显示能够展现工件内缺陷的埋藏深度。

3.9 C型显示能展现工件中缺陷的长度和宽度，但不能展现深度。

3.10 通用AVG曲线采用的距离是以近场长度为单位的归一化距离，适用于不同规格的探头。

3.11 在通用AVG曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量

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尺寸。

3.12 A型显示探伤仪，利用D.GS曲线板可直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度。

3.13 电磁超声波探头的优点之一是换能效率高，灵敏度高。 3.14 多通道探伤仪是由多个或多对探头同时工作的探伤仪。 3.15 探伤仪中的发射电路亦称为触发电路。

3.16 探伤仪中的发射电路亦可产生几百伏到上千伏的电脉冲去激励探头晶片振动。 0

3.17 探伤仪的扫描电路即为控制探头在工件探伤面上扫查的电路。

3.18 探伤仪发射电路中的阻尼电阻的阻值愈大，发射强度愈弱。

3.19 调节探伤仪“深度细调”旋钮时，可连续改变扫描线扫描速度。

3.20 调节探伤仪“抑制”旋钮时，抑制越大，仪器动态范围越大。 3.21 调节探伤仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变。

3.22 不同压电晶体材料中声速不一样，因此不同压电材料的频率常数也不相同。

3.23 不同压电材料的频率常数不一样，因此用不同压电材料制

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作的探头其标称频率才能相同。

3.24 压电晶片的压电应变常鼓(d33)大，则说明该晶片接收性能好。

3.25 压电晶片的压电电压常敷（g33）大，刚说明该晶片接收性能好。

3.26 探头中压电晶片背面加吸收块是为了提高机械品质因素Qm，减少机械能损耗。1

3.27 工件表面比较租糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。

3.28 斜探头楔块前部和上部开消声槽的目的是使声波反射回晶片处，减少声能损失。

3.29 由于水中只能传插纵波，所以水浸探头只能进行纵波探伤。

3.30 双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远复盖区愈大。

3.31 有机玻璃声透镜水浸聚焦探头，透镜曲率半径愈大，焦距愈大。

3.32 利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。

3.33 当斜探头对准IIW2试块上R5曲面时，荧光屏上的多次

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反射回波是等距离的。

3.34 中心切槽的半圆试块，其反射特点是多次回波总是等距离出现。

3.35 与IIW试块相比CSK-IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。

3.36 调节探伤仪的“水平”旋钮，将会改变仪器的水平线性。 3.37 测定仪器的“动态范圈”时，应将仪器的“抑制”、“深度补偿”旋钮置于“关”的位置。 3.38 盲区与始波宽度是同一概念。

3.39 测定组合灵敏度时，可先调节仪器的“抑制”旋钮，使电噪声电平≤l0%，再进行测试。

3.40 测定“始波宽度”对，应将仪器的灵敏度调至最大。 3.41 为提高分辨力，在满足探伤灵敏度要求情况下，仪器的发射强度应尽量调得低一些。

3.42 在数字化智能超声波探伤仪中，脉冲重复频率又称为采样频率。

3.43 双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。

3.44 温度对斜探头折射角有影响，当温度升高对，折射角将变大。

3.45 日前使用最广泛的测厚仪是共振式测厚仪。

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1.4 在金属材料的超声波探伤中，使用最多的频率范围是：（ ）

A、10～25MHz B、l～10001KHz C、1～5MHz D大于20000MHz

1.5 机械波的波速取决于（ ）

A、机械振动中质点的速度 B、机械振动中质点的振幅

C、机械振动中质点的振动频率 D、弹性介质的特性 1.6 在同种固体材料中，纵波声速CL．横渡声速Cs,表面波声速Cn之间的关系是： （ ）

A、CR>Cs>CL B、Cs>CL>CR C、CL>Cs>CR D、以上都不对

1.7 在下列不同类型超声波中，哪种渡的传播速度随频率的不同而改变？（ ）

A、表面波 B、板波 C、疏密波 D、剪切波 1.8 超声波入射到异质界面时，可能发生（ ） A、反射 B、折射 C、渡型转换 D、以上都是 1.9 超声波在介质中的传播速度与（ ）有关。

A、介质的弹性 B介质的密度 C、超声波波型 D、

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以上全部

1.10 在同一固体材料中，纵、横渡声速之比，与材料的（ ）有芙？

A、密度 B、弹性模量 C、泊松比 D、以上全部 1.11 质点振动方向垂直于波的传播方向的波是（ ） A、纵波 B、横波 C、表面波 D、兰姆波 1.12在流体中可传插：（ ） A、纵波 B、横波

C、纵波、横波及表面波 D、切变波

1.13 超声纵波、横波和表面波速度主要取决于：（ ） A、频率 B、传声介质的几何尺寸

C、传声材料的弹性模量和密度 D、以上都不全面，须视具体情况而定

1.14 板波的速度主要取决于：（ ） A、频率 B、传声介质的几何尺寸

C、传声材料的弹性和质量 D、以上都不全面，须视具体情况定

1.15 钢中超声波纵波声速为590000cm/s，若频率为10MHz则其波K为：（ ） A、59mm B、5.9mm

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C、0.59mm D、2.36mm

1.16 下面哪种超声波的波长最短（ ） A、水中传播的2MHz纵波 B、钢中传播的2.5MHz横波 C、钢中传播的5MHz纵波 D、钢中传播的2MHz表面波

1.17 一般认为表面波作用于物体的深度大约为（ ） A、半个波长 B、一个波长 C、两个波长 D、3.7个波长

1.18 钢中表面波的能量大约在距表面多深的距离会降低到原来的1/25。（ ）

A、五个波长 B、一个波长 C、1/10波长 D、0.5波长

1.19 脉冲反射法超声波探伤主要利用超声波传播过程中的（ ）

A、散射特性 B、反射特性 C、透射特性 D、扩散特性

1.20 超声波在弹性介质中传播时有（ ）

A、质点振动和质点移动 B、质点振动和振动传递 C、质点振动和能量传播 D、B和C

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1.21 超声波在弹性介质中的速度是（ ） A、质点振动的速度 B、声能的传播速度 C、波长和传播时间的乘积 D、以上都不是

1.22 若频率一定，下列哪种波型在固体弹性介质中传播的波长最短：（ ）

A、剪切波 B、压缩波 C、横渡 D、瑞利表面波 1.23 材料的声速和密度的乘积称为声阻抗，它将影响超声波（ ）

A、在传播时的材质衰减

B、从一个介质到达另一个介质时在界面上的反射和透射 C、在传播时的散射 D、扩散角大小 1.24 声阻抗是：（ ）

A、超声振动的参数 B、界面的参数 C、传声介质的参数 D、以上都不对

1.25 当超声纵波由水垂直射向钢时，其透射系数大于1，这意味着：（ ）

A、能量守恒定律在这里不起作用 B、透射能量大于入射能量 C、A与B都对 D、以上都不对

1.26 当超声纵波由钢垂直射向水时，其反射系数小于0，这意

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味着：（ ）

A、透射能量大于入射能量

B、反射超声波振动相位与入射声波互成180。 C、超声波无法透入水中 D、以上都不对

1.27 垂直入射于异质界面的超声波束的反射声压和透射声压：（ ）

A、与界面二边材料的声速有关 B、与界面二边材料的密度有关 C、与界面二边材料的声阻抗有关 D、与入射声波波型有关

1.28 在液浸探伤中，哪种波会迅速衰减：（ ） A、纵波 B、横波 C、表面波 D、切变波

1.29 超声波传播过程中，遇到尺寸与波长相当的障碍物时，将发生（ ）

A、只绕射，无反射 B、既反射又绕射 C、只反射无绕射 D、以上都可能

1.30 在同一固体介质中，当分别传播纵、横波时，它的声阻抗将是（ ）

A、一样 B、传播横波时大 C、传播纵波时大 D、无法确定

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A、大 B、小 C、相同 D、以上都可能

4.31 为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用 （ ）

A、小K值探头 B、大K值探头 C、较保护膜探头 D、高频探头

4.32 在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（ ）

A、侧面反射波带来干涉 B、探头太大，无法移至边缘 C、频率太高 D、以上都不是

4.33 在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：（ ）

A、提高探头声束指向性 B、校准仪器扫描线性 C、提高探头前沿长度和K值测定精度 D、以上都对 4.34 当量大的缺陷实际尺寸：（ ）

A、一定大 B不一定大 C、一定不大 D等于当量尺寸

4.35 当量小的缺陷实际尺寸：（ ）

A、一定小 B、不—宝小 C、一定不小 D、等于当量尺寸

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4.36 在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（ ） D、大 B、小 C不影响 D、不一定

4.37 当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越：（ ）

A、大 B、小 C、无影响 D、不一定 4 .38 焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高（ ）

A、探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出

B、裂纹表面不光洁对回波强度影响越大 C、杂波太多 D、AB都对

4.39 厚度为600mm的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为l65μs若纵波在铝中声速为6300m/S则此回波是（ ） A、底面回波 B、底面二次回波 C、缺陷回波 D、迟到回波

4.40 直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：（ ） A、底面回波降低或消失 B、底面回波正常 C、底面回波变宽 D、底面回波变窄

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4.41 直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0 01dB／mm（双程），今将前者底面回波调至满幅(100%) 高，则后者的底面回波应是满幅度的：（ ） A、40% B、20% C、10% D、5%

4.42 厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400／Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（ ）

A、两个缺陷当量相同 B、材质衰减大的锻件中缺陷当量小 C、材质衰减小的锻件中缺陷当量小 D、以上都不对

4.43 在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（ ） A、缺陷回波 B、底波或参考回波的减弱或消失 C、接收探头接收到的能量的减弱 D、AB都对

4.4在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（ ） A、耦合不良 B、存在与声束不垂直的平面缺陷 C、存住与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D、以上都是 4.45 在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：（ ）

A、与表面成较大角度的平面缺陷 B、反射条件很差的密集缺陷

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C、AB都对 D、AB都不对

4.46 影响直接接触法耦合损耗的原因有：（ ）

A、耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗 B、探头接除面介质声阻抗 C、工件被探测面材料声阻抗 D、以上都对

4.47 被检工件晶粒粗大，通常会引起：（ ） A、草状回波增多 B、信噪比下降 C、底波次数减少 D、以上全部

4.48 为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：（ ） A、使用高声阻抗耦合剂 B、使用软保护膜探头 C、使用较低频率和减少探头耦合面尺寸 D、以上都可以 4.49 在平整光洁表面上作直探头探伤时宜使用硬保护膜探头，因为这样：（ ）

A、虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声 B、脉冲窄，探测灵敏度高 C、探头与仪器匹配较好 D、以上都对

4.50 应用有人工反射体的参考试块主要目的是：（ ） A、作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供

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依据

B、为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具 C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证 D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体 4.51 下面哪种参考反射体与入射声束角度无关：（ ） A、平底孔

B、平行于探测面且垂直于声束的平底槽 C、平行于探测面且垂直于声束的横通孔 D、平行于探测面且垂直于声束的V型缺口

4.52 测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（ ）

A、声束扩散损失 B、耦合损耗 C、工件几何形状影响 D、以上都是

4.53 沿细长工件轴向探伤时，迟到波声程△x的计算公式是：（ ）

4.54 换能器尺寸不变而频率提高时：( ) A、横向分辨力降低 B、声束扩散角增大

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2.22 对于球面波，距声源距离增大1倍，声压变化是：（ ） A、增大6db B、减小6db C、增大3db D、减小3db 2.23 比Φ3mm平底孔回波小7db的同声程平底孔直径是：（ ）

A、Φ1mm B、Φ2mm C、Φ4mm D、Φ0.5mm 2.24 比Φ3mm长横孔反射小7db的同声程长横孔直径是（ ） A、Φ0.6mm B、Φ1mm C、Φ2mm D、Φ0.3mm 2.25 以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点（ ） A、灵敏度高 B、横向分辨率高 C、纵向分辨高 D、探测粗晶材料时信噪比高 2.26 以下叙述中，哪一条不是聚焦探头的缺点（ ） A、声束细，每次扫查探测区域小，效率低

B、每只探头仅适宜探测某一深度范围缺陷，通用性差 C、由于声波的干涉作用和声透镜的球差，声束不能完全汇聚一点

D、以上都是

3.1 A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：（ ） A、缺陷的性质和大小 B、缺陷的形状和取向 C、缺陷同波的大小和超声传播的时问 D、以上都是 3.2 A型扫描显示，“盲区”是指：（ ）

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A、近场区 B、声束扩散角以外区域

C、始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间 D、以上均是 3.3 A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示大小表示：（ ） A、超声回波的幅度大小 B、缺陷的位置 C、被探材料的厚度 D、超声传播时间 3.4 A型扫描显示中，水平基线代表：（ ） A、超声回波的幅度大小 B、探头移动距离 C、声波传播时间 D、缺陷尺寸大小

3.5 脉冲反射式超声波探伤仪中，产生触发脉冲的电路单元叫做（ ）

A、发射电路 B、扫描电路 C、同步电路 D、显示电路 3.6 脉冲反射超声波探伤仪中，产生时基线的电路单元叫做（ ）

A、扫描电路 B、触发电路 C、同步电路 D、发射电路 3.7 发射电路输出的电脉冲，其电压通常可达（ ） A、几百伏到上千伏 B、几十伏 C、几伏 D、1伏 3.8 发射脉冲的持续时间叫：（ ）

A、始脉冲宽度 B、脉冲周期 C、脉冲振幅 D、以上都不是

3.9 探头上标的2.5MHz是指：（ ）

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A、重复频率 B、工作频率 C、触发脉冲频率 D、以上都不对

3.10 影响仪器灵敏度的旋纽有：（ ） A、发射强度和增益旋纽 B、衰减器和抑制 C、深度补偿 D、以上都是 3.11 仪器水平线性的好坏直接影响：（ ） A、缺陷性质判断 B、缺陷大小判断 C、缺陷的精确定位 D、以上都对 3.12 仪器的垂直线性好坏会影响：（ ） A、缺陷的当量比较 B、AVG曲线面板的使用 C、缺陷的定位 D、以上都对

3.13 接收电路中，放大器输入端接收的同波电压约有（ ） A、几百伏 B、100V左右 C、10V左右 D、0.001～1V 3.14 同步电路每秒钟产生的触发脉冲数为（ ） A、l—2个 B、数十个到数千个 C、与工作频率相同 D、以上都不对

3.15 调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（ ） A、垂直线性 B、动态范围 C、灵敏度 D、以上全部 3.16 放大器的不饱和信号高度与缺陷面积成比例的范围叫做放放大器的（ ）

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A、灵敏度范围 B、线性范围 C、分辨力范围 D、选择性范围

3.17 单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（ ）

A、近场干扰 B、材质衰减 C、盲区 D、折射 3.18 同步电路的同步脉冲控制是指：（ ） A、发射电路在单位时间内重复发射脉冲次数 B、扫描电站每秒钟内重复扫描次数

C、探头晶片在单位时间内向工件重复幅射超声波次数 D、以上全部都是

3.19 表示探伤仪与探头组合性能的指标有：（ ） A、水平线性、垂直线性、衰减器精度 B、灵敏度余量、盲区、远场分辨力 C、动态范阻。—题堂皇！奠搽测瀑度 D、垂直极限、水平极限、重复频率

3.20 使仪器得到满幅显示时Y轴偏转板工作电压为80V，现晶片接收到的缺陷信号电压为40mv，若要使此缺陷以50%垂直幅度显示，仪器放大器应有多大增益量？（ ） A、74dB B、66dB C、60dB D、80dB 3.21 脉冲反射式超声波探伤仅同步脉冲的重复频率决定着：

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（ ）

A、扫描长度 B、扫描速度

C、单位时间内重复扫描次数 D、锯齿波电压幅度 3.22 压电晶片的基频是：（ ）

A、晶片厚度的函数 B、施加的脉冲宽度的函数 C、放大器放大特性的函数 D、以上都不对 3.23 探头的分辨力：（ ）

A、与探头晶片直径成正比 B、与频率宽度成正比 C、与脉冲重复频率成正比 D、以上都不对 3.24 当激励探头的脉冲幅度增大时：（ ）

A、仪器分辨力提高 B、仪器分辨力降低，但超声强度增大 C、声波穿透力降低 D对试验无影响 3.25 探头晶片背面加上阻尼块会导致：（ ）

A、Qm值降低．灵敏度提高 B、Qm值增大，分辨力提高 C、Qm值增大，盲区增大 D、Qm值降低，分辨力提高

3.26 为了从换能器获得最高灵敏度：（ ） A、应减小阻尼块 B、应使用大直径晶片

C、应使压电晶片在它的共振基频上激励 D、换能器频带宽度应尽可能大

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3.27 超声试验系统的灵敏度：（ ） A、取决于探头高频脉冲发生器和放大器 B、取决于同步脉冲发生器 C、取决于换能器机械阻尼 D、随分辨力提高而提高

3.28 换能器尺寸不变而频率提高时：（ ） A、横向分辨力降低 B、声束扩散角增大 C、近场长度增大 D、指向性变钝

3.29 一般探伤时不使用深度补偿是因为它会：（ ） A、影响缺陷的精确定位

B、影响AVG曲线或当量定量法的使用 C、导致小缺陷漏捡 D、以上都不对

3.30 晶片共振波长是晶片厚度的（ ） A、2倍 B、1/2倍 C、l倍 D、4倍

3.31 已知PZT-4的频率常数是2000m/s，2.5MHz的PZT-4晶片厚度约为：（ ）

A、0.8mm B、l.25mm C、1.6mm D、0.4mm 3.32 在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（ ） A、硬保护膜直探头 B、软保护膜直探头

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C、大尺寸直探头 D、高频直探头

3.33 目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是：（ ） A、石英 B钛酸钡 C、锆钛酸铅 D硫酸锂 3.34 联合双直探头的最主要用途是：（ ） A、探测近表面缺陷 B、精确测定缺陷长度 C、精确测定缺陷高度 D、用于表面缺陷探伤

3.35 超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料：（ ） A、导电材料 B磁致伸缩材料 C、压电材料 D磁性材料

3.36 下面哪种材料最适宜做高温探头：（ ） A、石英 B、硫酸锂 C、锗钛酸铅 D、铌酸锂

3.37 下面哪种压电材料最适宜制作高分辨率探头：（ ） A、石英 B锆钛酸铅 C、偏铌酸铅 D、钛酸钡 3.38 下列压电晶体中哪一种作高频探头较为适宜（ ） A、钛酸钡(CL=5470m/s) B、铌酸锂（CL=7400m/s） C、PZT（CL=4400m/s） D、钛酸铅(CL=4200m/S) 3.39 表示压电晶体发射性能的参数是（ ） A、压电电压常数g33 B、机电耦合系数K C、压电应变常数d33 D、以上全部

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3.40 以下关于爬波探头的叙述，哪一条是错误的（ ） A、爬波探头的外形和结构与横渡斜探头类似

B、当纵波入射角大于或等于第二临界角时，在第二介质中产生爬波

C、爬波用于探测表层缺陷

D、爬波探测的深度范围与频率f和晶片直径D有关。 3.41 窄脉冲探头和普通探头相比（ ）

A、Q值较小 B、灵敏度较低 C、频带较宽 D、以上全部

3.42 采用声透镜方式制作聚焦探头时，设透镜材料为介质1，欲使声束在介质2中聚焦，选用平凹透镜的条件是（ ） A、Zl>Z2 B、C1 C2 D、Z1

3.44 以下哪一条，不属于数字化智能超声波探伤仪的优点（ ）

A、检测精度高，定位定量准确 B、频带宽，脉冲窄 C、可记录存贮信号 D、仪器有计算和自检功能 3.45 以下哪一条，不属于双晶探头的优点（ ）

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A、探测范围大 B、盲区小 C、工件中近场长度小 D、杂波少

3.46以下哪一条，不属于双品探头的性能指标（ ） A、工作频率 B、晶片尺寸 C、探测深度 D、近场长度

3.47 斜探头前沿长度和K值测定的儿种方法中，哪种方法精度最高：（ ）

A、半圆试块和横孔法 B、双孔法

C、直角边法 D、不一定，须视具体情况而定 3.48 超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为（ ） A、检测灵敏度 B、时基线性 C、垂直线性 D、分辨力

3.49 用以标定或测试超声探伤系统的，含有模拟缺陷的人工反射体的金属块叫（ ）

A、晶体准直器 B、测角器 C、参考试块 D、工件 3.50 对超声探伤试块材质的基本要求是：（ ） A、其声速与被探工件声速基本一致

B、材料中没有超过Φ2mm平底孔当量的缺陷 C、材料衰减不太大且均匀 D、以上都是

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3.51 CSK-IIA试块上的Φl×6横孔，在超声远场．其反射波高随声程的变化规律与 （ ）相同。

A、k值孔 B、平底孔 C、球孔 D、以上B和C 4.1 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（ ） A、直探头探伤法 B、脉冲反射法 C、斜探头探伤法 D、穿透法

4.2 超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（ ） A、较低频探头 B、较粘的耦合剂 C、软保护膜探头 D、以上都对

4.3 超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（ ） A、曲面探伤时可减少耦合损失 B、可减少材质衰减损失 C、辐射声能大且能量集中 D、以上全部 4.4 探伤时采用较高的探测频率，可有利于（ ） A、发现较小的缺陷 B、区分开相邻的缺陷 C、改善声束指向性 D、以上全部

4.5 工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的（ ）

A、平面效果最好 B、凹曲面居中 C、凸曲面效果最差 D、以上全部

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4.6 缺陷反射声能的大小，取决于（ ） A、缺陷的尺寸 B、缺陷的类型 C、缺陷的形状和取向 D、以上全部

4.7 声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是： （ ）

A、反射波高随粗糙度的增大而增加 B、无影响

C、反射波高随粗糙度的增大而下降 D、以上A和C都可能

4.8 如果声波在耦合介质中波长为λ，为使透声效果好，耦合层厚度为（ ）

A、λ/4的奇数倍 B、λ/2整数倍 C、小于λ/4且很薄 D、以上B和C

4.9 表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（ ）

A、缺陷深度 B、缺陷至探头前沿距离 C、缺陷声程 D、以上都可以

4.10 探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1：1调扫描，下面哪种说法正确？（ ）

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A、缺陷实际径向深度总是小于显示值 B、显示的水平距离总是大于实际弧长

C、显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小 D、以上都正确

4.11 采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，下面哪种说法正确（ ）?

A、F/B相同，缺陷当量相同 B该法不能给出缺陷的当量尺寸

C、适于对尺寸较小的缺陷定量 D、适于对密集性缺陷的定量

4.12 在频率一定和材料相同情况下，横渡对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：（ ）

A、横波质点振动方向对缺陷反射有利 B、横渡探伤杂波少 C、横波波长短 D、横波指向性好 4.13 采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：（ ）

A、1.25MHz B、2.5MHz C、5MHz D、l0MHz 4.14在用5MHzΦlO晶片的直探头作水浸探伤时，水层厚度为20mm，此时在钢工件中的近场区长度还有：（ ） A、10.7mm B、1.4mm C、16.3mm D、以上都不对

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4.15 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（ ）

A、小于实际尺寸 B、接近声束宽度 C、稍大于实际尺寸 D、等于晶片尺寸 4.16 棱边再生波主要被用于测定：（ ） A、缺陷的长度 B、缺陷的性质 C、缺陷的位置 D、缺陷的高度

4.17 从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息。超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法来进行：（ ） A、精确对缺陷定位 B、精确测定缺陷形状 C、测定缺陷的动态波形 D、以上方法须同时使用 4.18 单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（ ） A、来自工件表面的杂波 B、来自探头的噪声 C、工件上近表面缺陷的回波 D、耦合剂噪声 4.19 确定脉冲在时基线上的位置应根据：（ ）

A、脉冲波峰 B、脉冲前沿 C、脉冲后沿 D、以上都可以

4.20用实测折射角7°的探头探测板厚为25mm的对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是：（ ）

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A、l00mm B、125mm C、l50mm D、200mm 4.21 用IIW2调整时间轴，当探头对准R50圆弧面时，示波屏上的回波位置（声程调试）应在；（ ）

4.22 能使K2斜探头得到图示深度l：1调节波形的钢半圆试块半径R为（ ）

A、50mm B、60mm C、67mm D、40mm

4.23 在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（ ）

A、水平定能法 B、深度定位法 C、声程定位法 D、一次波法

4.24 在中薄板焊缝斜探头探伤时，宜使用什么方法标定仪器时基线？（ ）

A、水平定位法 B、深度定位法 C、声程定位法 D、

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二次被法

4.25 对圆柱形简体环缝探测时的缺陷定位应：（ ） A、按平板对接焊缝方法 B、作曲面定位修正 C、使用特殊探头 D、视具体情况而定采用各种方法 4.26 在探测球形封头上焊缝中的横向缺陷时，缺陷定位应：（ ）

A、按平板对接焊缝方法 B、作曲面修正

C、使用特殊探头 D、视具体情况决定是否采用曲面修正

4.27 在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平扳探伤时所得读数：（ ）

A、大 B、小 C、相同 D、以上都可能

4.28 在筒身内壁作曲面周向探伤，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数（ ）

A、大 B、小 C、相同 D、以上都可艟

4.29 在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平扳探伤时所得读数（ ）

A、大 B、小 C、相同 D、以上都可能

4.30 在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数（ ）

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